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| ブランド名: | Weiaipu |
| モデル番号: | V180162T |
| MOQ: | 1728個 |
| 価格: | USD0.07 |
| パッケージの詳細: | カートン |
| 支払条件: | T/T |
V180162T メディカルグレードのVIPフェライトコア:医療機器電源ケーブルに対する高阻力EMC磁性コア株式会社電子回路内の高周波電磁気干渉を効果的に抑制し,RoHSとREACHの環境要件に完全に準拠しています.
阻力性能は,10個の生産サンプル試験データで確認され,1〜500 MHz周波数帯.トロイド・ギャップフリー磁気経路設計により,ケーブルハーネスと回路レベルのEMC最適化のために安定したブロードバンドノイズ削減性能を提供します.
公式の承認表の試験記録 (Rev.4標本から測定された典型値 (10 標本平均):A=18.98 mm,B=10.98 mm,C=12.90 mm.要求に応じて,完全な次元許容量データと個別サンプル測定値が提供される - 認証シート6080025020-V180162T Rev4を参照.0.
| ポイント | 仕様 |
|---|---|
| 試験器具 | E4991A |
| 試験周波数範囲 | 1 MHz ~ 500 MHz |
| 試験用巻き装具 | Ø0.5×0.5TS×100L (mm) |
| 典型的な誘導力 L (10個のサンプル平均) | 29.96 μH |
| 典型的なインペデンス @25KHz (平均) | 85.04 Ω |
| 典型的なインペデンス @100 MHz (平均) | 18.98 Ω |
阻力対周波数試験曲線は,参照のために公式の承認表に付属している.
| パラメータ | 価値 |
|---|---|
| 初期透透性 μi | 650 (±20%) |
| 相対的な損失因子 | 20*10−6 @0.1 MHz |
| 飽和磁流密度 | 260 mT (@1600 A/m) |
| 残留時間 Br | 150mT |
| 強制力 | 35A/m |
| キュリー温度 | >105 °C |
| 電気抵抗性 | 高周波の作業条件下での渦巻電流損失を最小限に抑える高抵抗性 |
複数のグレードの破損制限基準: 質量制御用の大量生産において,欠陥面積と最大許容された欠陥量は,外側の核の寸法によって定義される.試験用標本報告書の各標本が視覚検査に合格した (Y/N = Y).
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| ブランド名: | Weiaipu |
| モデル番号: | V180162T |
| MOQ: | 1728個 |
| 価格: | USD0.07 |
| パッケージの詳細: | カートン |
| 支払条件: | T/T |
V180162T メディカルグレードのVIPフェライトコア:医療機器電源ケーブルに対する高阻力EMC磁性コア株式会社電子回路内の高周波電磁気干渉を効果的に抑制し,RoHSとREACHの環境要件に完全に準拠しています.
阻力性能は,10個の生産サンプル試験データで確認され,1〜500 MHz周波数帯.トロイド・ギャップフリー磁気経路設計により,ケーブルハーネスと回路レベルのEMC最適化のために安定したブロードバンドノイズ削減性能を提供します.
公式の承認表の試験記録 (Rev.4標本から測定された典型値 (10 標本平均):A=18.98 mm,B=10.98 mm,C=12.90 mm.要求に応じて,完全な次元許容量データと個別サンプル測定値が提供される - 認証シート6080025020-V180162T Rev4を参照.0.
| ポイント | 仕様 |
|---|---|
| 試験器具 | E4991A |
| 試験周波数範囲 | 1 MHz ~ 500 MHz |
| 試験用巻き装具 | Ø0.5×0.5TS×100L (mm) |
| 典型的な誘導力 L (10個のサンプル平均) | 29.96 μH |
| 典型的なインペデンス @25KHz (平均) | 85.04 Ω |
| 典型的なインペデンス @100 MHz (平均) | 18.98 Ω |
阻力対周波数試験曲線は,参照のために公式の承認表に付属している.
| パラメータ | 価値 |
|---|---|
| 初期透透性 μi | 650 (±20%) |
| 相対的な損失因子 | 20*10−6 @0.1 MHz |
| 飽和磁流密度 | 260 mT (@1600 A/m) |
| 残留時間 Br | 150mT |
| 強制力 | 35A/m |
| キュリー温度 | >105 °C |
| 電気抵抗性 | 高周波の作業条件下での渦巻電流損失を最小限に抑える高抵抗性 |
複数のグレードの破損制限基準: 質量制御用の大量生産において,欠陥面積と最大許容された欠陥量は,外側の核の寸法によって定義される.試験用標本報告書の各標本が視覚検査に合格した (Y/N = Y).
